?38DL PLUS超聲測(cè)厚儀對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測(cè)量

38DL PLUS測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中zui常使用的是雙晶探頭。
• 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。
• 10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
• 校準(zhǔn)過(guò)程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
• 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
• 校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
• 用于測(cè)量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能。
• 高溫測(cè)量：溫度可高達(dá)500°C。
• 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測(cè)量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。
• EMAT探頭（E110-SB），用于對(duì)外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測(cè)量。

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀穿透涂層技術(shù)

使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測(cè)量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀溫度補(bǔ)償

材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和厚度測(cè)量的精確性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測(cè)量時(shí)的實(shí)際（高）溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過(guò)溫度校正的厚度值。

氧化層/沉積物測(cè)量（可選項(xiàng)）

38DL PLUS使用高級(jí)算法測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀V聲程創(chuàng)建功能

用戶使用這項(xiàng)正等待通過(guò)的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí)，這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。

用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值（zui小3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)；zui大10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)），儀器就會(huì)創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀自動(dòng)探頭識(shí)別

所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

?38DL PLUS超聲測(cè)厚儀對(duì)塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測(cè)量

用戶使用單晶探頭可以精確測(cè)量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項(xiàng)可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其精確的厚度測(cè)量。
• 對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
• 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測(cè)量值。
• 高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層的厚度同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
• 測(cè)量厚度、聲速或渡越時(shí)間。
• 帶有默認(rèn)和自定義設(shè)置的自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量。

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀高穿透軟件選項(xiàng)

用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測(cè)量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀多層軟件選項(xiàng)

這個(gè)軟件選項(xiàng)計(jì)算并同時(shí)顯示多達(dá)4個(gè)不同層的厚度測(cè)量值

這個(gè)功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應(yīng)用包括對(duì)塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測(cè)量。

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口

38DL PLUS測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
• 內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。
• 32位字符的文件名稱。
• 20位字符的ID# （TML#）編碼。
• 9個(gè)文件格式：增量型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動(dòng)型。
• 每個(gè)ID# （TML）編碼可zui多存儲(chǔ)4個(gè)注釋。
• 注釋可存儲(chǔ)到一個(gè)ID#編碼上或存儲(chǔ)到一系列ID#編碼上。
• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
• 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡之間拷貝文件。
• 標(biāo)準(zhǔn)USB和RS-232通信。
• 單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。
• 機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告。
• 機(jī)載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
• GageView接口程序通過(guò)USB或RS-232端口與38DL PLUS測(cè)厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲(chǔ)卡上寫(xiě)入信息。
• 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號(hào)分隔值）格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲(chǔ)卡。

GageView™

• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來(lái)自38DL PLUS測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)。
• 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)。
• 編輯所存數(shù)據(jù)。
• 顯示數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值。
• 從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量總結(jié)，或上傳厚度測(cè)量總結(jié)至測(cè)厚儀。
• 將測(cè)量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其他程序。
• 收集捕獲的屏幕。
• 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告。
• 升級(jí)操作軟件。
• 下載和上傳單晶和雙晶探頭設(shè)置文件。
• B掃描回顧

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

38DL PLUS數(shù)字式超聲測(cè)厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭套裝盒
• 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
• GageView接口程序
• 試塊和耦合劑
• USB線纜
• 橡膠保護(hù)套，帶有支架和頸掛帶
• 用戶手冊(cè)
• 兩年有限擔(dān)保
38DLPLUS測(cè)量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、zui小值/zui大值模式、兩個(gè)報(bào)警模式、差分模式、B掃描、自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用、溫度補(bǔ)償、平均值/zui小值模式