標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A100C:2007

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

濕熱循環(huán)偏壓壽命試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

評(píng)估非固態(tài)封裝產(chǎn)品在溫度循環(huán)、高濕、偏壓及結(jié)露環(huán)境下。產(chǎn)品抗腐蝕和耐須晶生長(zhǎng)性能。

試驗(yàn)方法/條件

ramp time 2h～4h；storage 4h～8h；30~65℃,90%～98%RH

嚴(yán)酷等級(jí)

默認(rèn)除非特例

時(shí)間

1008(-24,+168)h

匹配設(shè)備

ESPEC的J系列、LHU系列、SH系列、Walk-in等

設(shè)備要求

可編程交替溫濕度變化

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A102D:2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

高加速蒸煮試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

這個(gè)測(cè)試方法主要適用于抗?jié)駸岬慕研詼y(cè)試，通過(guò)高溫高壓飽和濕氣環(huán)境，引發(fā)分層或金屬化腐蝕等失效。主要針對(duì)新封裝材料及結(jié)構(gòu)變化的考量。

試驗(yàn)方法/條件

121±2℃,100%RH,205KPa

嚴(yán)酷等級(jí)

Condition A~F

時(shí)間

24(0,+2)h；48(0,+2)h；96(0,+5)h；168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h

匹配設(shè)備

EHS-211、EHS-411

設(shè)備要求

高壓蒸煮設(shè)備

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A103D:2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

高溫儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

高溫存儲(chǔ)測(cè)試通常用于確定時(shí)間和
溫度對(duì)產(chǎn)品的影響。

試驗(yàn)方法/條件

125(0,+10)℃；150(0,+10)℃；175(0,+10)℃；200(0,+10)℃；250(0,+10)℃；300(0,+10)℃；

嚴(yán)酷等級(jí)

Condition A~F

時(shí)間

Condition B  1000h or specifying in accordance with JESD47

匹配設(shè)備

ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等

設(shè)備要求

試驗(yàn)過(guò)程能穩(wěn)定控溫

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A104D:2009

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

溫度循環(huán)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

本實(shí)驗(yàn)用來(lái)確定組件、互聯(lián)器件對(duì)交替溫度極限變化產(chǎn)生的機(jī)械應(yīng)力的耐受性。

試驗(yàn)方法/條件

-55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)       

嚴(yán)酷等級(jí)

Condition A~N

時(shí)間

500~1000h根據(jù)具體條件

匹配設(shè)備

TCC、Global-N系列

設(shè)備要求

較高的溫變速率

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A105C:2004

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

上電和溫度循環(huán)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

適用于半導(dǎo)體器件，在交替的高低溫極限中周期的施加卸除偏壓，用于模擬樣件所遭受的zui惡劣環(huán)境

試驗(yàn)方法/條件

-40(+0,-10)℃～+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min
-40(+0,-10)℃～+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min
power on/off 5min

嚴(yán)酷等級(jí)

Typical condition A~B 

時(shí)間

10 minutes at each extreme temperature 

匹配設(shè)備

J系列、MC、AR系列、BTZ、Global-N系列

設(shè)備要求

具有可編程控制能達(dá)到的溫度變化數(shù)率

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A106B:2004

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

熱沖擊

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

這個(gè)測(cè)試是為了確認(rèn)樣品暴露于溫度變化的抵抗力和造成的影響。

試驗(yàn)方法/條件

85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃  TT less than 20s

嚴(yán)酷等級(jí)

Condition A~D

時(shí)間

協(xié)議商定

匹配設(shè)備

TSB

設(shè)備要求

液體導(dǎo)熱媒介

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A107B:2004

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

鹽霧實(shí)驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

用來(lái)確定固態(tài)器件抵抗鹽霧腐蝕能力

試驗(yàn)方法/條件

35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方米每24小時(shí)，pH 6.0~7.5.  

嚴(yán)酷等級(jí)

Condition A~D

時(shí)間

24h;48h;96h;240h.

匹配設(shè)備

板橋理化的SQ系列

設(shè)備要求

適合完成中性鹽霧條件的試驗(yàn)箱

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A108D:2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

高溫環(huán)境條件下的工作壽命試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

這個(gè)測(cè)試用于確定偏差的和溫度對(duì)固體器件的影響。短時(shí)間一種高溫偏壓的壽命測(cè)試,俗稱(chēng)老化,可能被用來(lái)剔除早夭期相關(guān)故障。

試驗(yàn)方法/條件

125℃/-10℃

嚴(yán)酷等級(jí)

由測(cè)試時(shí)間決定

時(shí)間

168h；336h；504h或另外商定

匹配設(shè)備

ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等

設(shè)備要求

樣品在通電狀態(tài)下溫箱溫差控制在5攝氏度內(nèi)

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A110D

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

高加速壽命試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)是為評(píng)估非氣密性固態(tài)器件在潮濕及電偏壓的環(huán)境中的可靠性。

試驗(yàn)方法/條件

130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power

嚴(yán)酷等級(jí)

由所選溫度點(diǎn)決定

時(shí)間

96h;264h

匹配設(shè)備

EHS-211、EHS-411

設(shè)備要求

能夠達(dá)到的溫濕度條件，并且具備給試樣施加電偏壓的結(jié)構(gòu)

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A118A:2011

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

不上電的高加速濕氣滲透試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)是為評(píng)估非氣密性固態(tài)設(shè)備器件在潮濕的環(huán)境中的可靠性。

試驗(yàn)方法/條件

130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;

嚴(yán)酷等級(jí)

由所選溫度點(diǎn)決定

時(shí)間

96h;264h

匹配設(shè)備

EHS-211、EHS-411

設(shè)備要求

能夠達(dá)到的溫濕度條件

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-B103B:2002

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)

振動(dòng)和掃頻試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

這個(gè)測(cè)試是評(píng)估電氣設(shè)備組件。它的目的是確定組件)承受中度到重度的振動(dòng)運(yùn)動(dòng)的結(jié)果　　　　運(yùn)輸或野外作業(yè)產(chǎn)生的。

試驗(yàn)方法/條件

正弦掃頻實(shí)驗(yàn)、隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)

嚴(yán)酷等級(jí)

正弦掃頻實(shí)驗(yàn)分8個(gè)等級(jí)；隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)從試驗(yàn)等級(jí)A~I

時(shí)間

正弦1decade/min掃過(guò)等級(jí)的規(guī)定的頻率范圍，4次每個(gè)軸,3個(gè)軸；隨機(jī)每個(gè)軸30分鐘，3個(gè)軸

匹配設(shè)備

DC-3200-36

設(shè)備要求

電磁振動(dòng)臺(tái)